鑑定資格：就讀本縣104學年度公立國民小學三年級學生，具備資賦優異特質者得提出申請，其申請資格為：二年級下學期及三年級上學期國語及數學領域學期總成績均達優等，一般智能資賦優異學生鑑定觀察推薦表總分在40分（含）以上者。 (曾參加過他縣市一般智能資優鑑定者，不得報名，違者送本縣鑑輔會討論)

學校初審：2月26前

報名：3月1日~3月4日

初選：3月12日

複選：3月26日

鑑輔會綜合研判：5月13日

詳如附件